珠海真理光学仪器有限公司-介绍-怎么样

企业名称

珠海真理光学仪器有限公司

企业地址

广东省珠海市广东省珠海市高新区金唐路1号港湾1号科创园湾5栋3层

成立日期

2015

企业规模（人）

40至49

年销售额（USD）

4,000,000至4,999,999

企业简介

真理光学仪器有限公司专注于高端颗粒表征仪器的研发和制造，产品涵盖激光（衍射法）粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪，既有实验室仪器，又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度，工匠精神”，为用户提供世界先进的高端产品和服务。真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的优秀人才。张福根博士现任本公司董事长兼首席科学家，还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授，曾担任中国颗粒学会副理事长，同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任本公司商务总经理，中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。激光（衍射法）粒度仪虽然已得到广泛应用，但还存在需要完善的地方，不论是科学基础方面，还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足，展开了系统的理论研究和技术创新，发现了衍射光斑（爱里斑）的反常变化现象（ACAD），解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球，并给出了反常区（不能测量粒径）的一般公式；研究了衍射仪器的测量上限和下限；研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响，发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技术方案（专利），解决了前向超大角测量盲区的问题，使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高;提出了统一的反演算法（专有技术），消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬；设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路，使干法测量的精度不亚于湿法测量，对高速喷雾场的测量（时间）分辨率也更高。在纳米粒度及Zeta电位仪方面，真理光学提出了比相位分析法（PALS）更先进的余弦拟合相位分析法（CF-PALS），用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束，用光纤内光干涉取代了自由空间干涉，使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。

主要竞争优势

品牌,经验丰富的研发人员,发货速度,生产能力,产品线丰富,接受小额订单,良好的信誉,优质服务

邮政编码

519000

官网地址

www.linkoptik.com

其他竞争优势

公司核心团队从事激光粒度分析仪器基础理论研究及产品应用经历超过30年。

专利与版权

光纤偏振滤波技术(专利号:ZL201720189750.7) 斜置梯形测量窗口技术(专利号:ZL201720195784.7) 环形测量池粒度分析技术(专利号:ZL201720374474.1) 兼有微量进样的可变容量技术(专利号:ZL201621332818.4) 颗粒折射率测量方法(专利号:ZL201810552388.4) 带液体鞘流测量窗口技术(专利号:ZL201921219223.1) 散射光偏振差颗粒折射率测量方法(专利号:ZL201911071791.6) 超低下限在线粒度分析技术(专利号:ZL202121718637.6) 超大颗粒含量测量技术(专利号:ZL202122186274.2)

里程碑

真理光学致力于高端颗粒表征仪器的研制与制造，包括激光（衍射法）粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪、颗粒图像分析仪，涵盖实验室设备和在线检测系统。公司秉持“科学态度，工匠精神”，为用户提供世界领先的产品与服务。团队聚集了颗粒表征领域的杰出人才，以张福根博士为代表。张博士兼任董事主席兼首席科学家，同时担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授，曾任中国颗粒学会副理事长，还是“欧美克”公司创始人。秦和义先生，曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年，现为商务总经理。公司以丰富经验的团队为支持，不断推动颗粒表征技术创新。公司在激光（衍射法）粒度仪领域深耕，针对现有仪器局限展开研究，提出了衍射光斑（爱里斑）的反常变化现象（ACAD），解释了3μm左右聚苯乙烯微球不能测量的原因，发现了反常区（不能测量粒径）的公式，研究了衍射仪器的测量上下限，探究了颗粒折射率偏差对结果影响，提出估算折射率的方法。公司还创新斜置梯形窗口技术解决大角测量盲区，提出统一的反演算法，设计高速数据采样电路，提升亚微米颗粒测量水平，且在纳米粒度及Zeta电位仪领域提出先进的余弦拟合相位分析法，以光纤取代传统分束，使Zeta电位测量更稳定。公司融合科研与工匠精神，为颗粒表征领域带来创新突破，助力科学发展。