数字化薄膜正电子湮没寿命谱仪DPLS-4000F

更新时间：2025-09-25

价格：面议

品牌：暂无

型号：暂无

产品详情

产品名称：数字化薄膜正电子湮没寿命谱仪DPLS-4000F

产品分类：其他分析仪器

产品关键词：数字化薄膜正电子湮没寿命谱仪DPLS-4000F

是否为生产商：是

主要销售市场：中国,北美洲,中/南美洲,西欧,东欧,大洋洲,亚洲,中东,非洲

产品描述

产品简介:DPLS-4000F是DPLS-4000的升级版本，使用独有的反符合设计与机器学习数据处理技术，可以测量微米级别厚度薄膜的正电子湮没寿命，对于制备困难、物质量少的纳米材料、薄膜材料是一种理想的无损表征手段。DPLS-4000 F同样支持在非薄膜模式下工作，此时功能与基本型号DPLS-4000相似。产品特色:薄膜测量:创造性的使用反符合设计，实现了微米级厚度薄膜的直接测试，通过机器学习算法对数据进行优化，提高实验精度。-机集成:DPLS-4000「使用模块化设计，将所有设备集成在机箱中，设备占地面积小，安装移动快捷，可以在各种场景中使用。键测量:利用AI算法实现自动设置，省去繁复的调试过程，消除使用门槛，真正让用户开机即用、一键测量,技术指标:时间分辨率<230ps(使用Na-22 放射源测量正电子湮没寿命谱);可测薄膜最小厚度≤2um，可测薄膜最大厚度>100um;能量分辨率≤5.0%@1.275MeV;时间采样率>5G/SPS;幅度分辨率≥12位;典型阳极脉冲上升时间≤0.8ns;曲型渡越时间分散≤0.37ns;闪烁体探测器溴化镧晶体尺寸>Ф25mm xL15mm;采用 Na-22 放射源，活度≥20uCi。具有示波器功能;能窗自动识别功能:探测测器集成分压电路、磁屏蔽;具有一键设置功能，自动设置所有测量参数，用户无需调试直接使用;具有自动校准功能，在测量过程中始终保持参数的稳定。