Zeta电位分析仪

真理光学仪器有限公司专注于高端颗粒表征仪器的研发和制造，产品涵盖激光（衍射法）粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪，既有实验室仪器，又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度，工匠精神”，为用户提供世界先进的高端产品和服务。真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的优秀人才。张福根博士现任本公司董事长兼首席科学家，还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授，曾担任中国颗粒学会副理事长，同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任本公司商务总经理，中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。激光（衍射法）粒度仪虽然已得到广泛应用，但还存在需要完善的地方，不论是科学基础方面，还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足，展开了系统的理论研究和技术创新，发现了衍射光斑（爱里斑）的反常变化现象（ACAD），解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球，并给出了反常区（不能测量粒径）的一般公式；研究了衍射仪器的测量上限和下限；研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响，发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技术方案（专利），解决了前向超大角测量盲区的问题，使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高;提出了统一的反演算法（专有技术），消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬；设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路，使干法测量的精度不亚于湿法测量，对高速喷雾场的测量（时间）分辨率也更高。在纳米粒度及Zeta电位仪方面，真理光学提出了比相位分析法（PALS）更先进的余弦拟合相位分析法（CF-PALS），用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束，用光纤内光干涉取代了自由空间干涉，使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。