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气载颗粒计数器

更新时间：2026-02-27

价格：面议

品牌：真理光学

型号： APC 610

产品详情

产品名称：气载颗粒计数器

产品分类：在线过程检测仪器

产品关键词：气载颗粒计数器

是否为生产商：是

最低订购量： 1

供货能力： 2000

付款方式：全款

交货周期： 30天

主要销售市场：中国

品牌：真理光学

型号： APC 610

产品描述

APC 610气载颗粒计数器vs传统光阻法颗粒计数器

真理光学APC 610 气载颗粒计数器	传统光阻法颗粒测试
能够测量颗粒的真实几何粒径	只能测量颗粒的等效消光粒径
测量准确性不受颗粒的折射率和吸收系数影响,无论什么材料组成的颗粒，都能得到准确的测量结果	受颗粒材料的折射率和吸收系数影响, 比如较低吸收系数的颗粒, 测量结果会偏小；反之，测量结果会偏大
测量准确性高，粒径测量的理论误差不超过1%	准确性无保证
能提供详尽的粒度分布数据	只能提供粗略的粒度分段数据
测量单元与驱动单元分离，并与采样斗直接相连设计（专利技术），测量单元可放置到狭小空间测量，避免了管道污染对测量准确性的影响	只能把采样斗放置到测量空间，管道内的颗粒沉积与污染直接影响测量结果的准确性
测量单元内测量室和采样斗可拆卸(专利技术)，便于清洁和更换；而管道的污染对测量无影响	测量室清洁困难，管道难以彻底清洗

原理

本仪器基于颗粒消光原理，采用独创的光学空间低通滤波硬件技术，结合衍射修正算法专利，能准确测量微米级气载颗粒的粒度分布和个数。

产品优势

目前已有的光阻法颗粒计数器已经广泛应用于无尘室的空气中颗粒（气载颗粒）监控, 但是由于光路原理和采样算法等局限设计, 现有的光阻法仪器无法对空气中的大颗粒进行较为准确的采样以及测量，本产品能准确测量微米级气载颗粒的粒度分布和个数，覆盖了当前仪器市场上未能监控大颗粒的痛点。

主要特征

主要性能指标
◆ 测量范围28μm~640μm
◆ 单机报告显示9粒径通道，内置36粒径通道
◆ 粒径重复性标准误差<2%
◆ 粒径准确性标准误差<5%
◆ 全量程颗粒数量误差<10%
◆ 风机流量偏差±2L/min

珠海真理光学仪器有限公司

访问店铺

注册资本

2000万

公司地址

广东省珠海市广东省珠海市高新区金唐路1号港湾1号科创园湾5栋3层

联系人

谭惠文

公司简介

真理光学仪器有限公司专注于高端颗粒表征仪器的研发和制造，产品涵盖激光（衍射法）粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪，既有实验室仪器，又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度，工匠精神”，为用户提供世界先进的高端产品和服务。真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的优秀人才。张福根博士现任本公司董事长兼首席科学家，还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授，曾担任中国颗粒学会副理事长，同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任本公司商务总经理，中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。激光（衍射法）粒度仪虽然已得到广泛应用，但还存在需要完善的地方，不论是科学基础方面，还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足，展开了系统的理论研究和技术创新，发现了衍射光斑（爱里斑）的反常变化现象（ACAD），解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球，并给出了反常区（不能测量粒径）的一般公式；研究了衍射仪器的测量上限和下限；研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响，发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技术方案（专利），解决了前向超大角测量盲区的问题，使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高;提出了统一的反演算法（专有技术），消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬；设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路，使干法测量的精度不亚于湿法测量，对高速喷雾场的测量（时间）分辨率也更高。在纳米粒度及Zeta电位仪方面，真理光学提出了比相位分析法（PALS）更先进的余弦拟合相位分析法（CF-PALS），用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束，用光纤内光干涉取代了自由空间干涉，使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。

业务类型：制造商

成立日期： 2015年

年营业额： 4,000,000至4,999,999

主营产品类别：实验室仪器及装备

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